Фармакопея | pharmacopeia.ru | Том 1

Рисунок 1 – Иллюстрация отражения лучей от серии плоскостей атомной

решетки

Условие дифракции рентгеновских лучей (уравнение Вульфа – Брэгга)

имеет вид:

∙ sin θ =

λ,

где

– порядок отражения (

= 1, 2, 3).

При выполнении условия Вульфа – Брэгга рентгеновский луч

регистрируется  детектором  или  на  фотопленке.  Интенсивность  максимума
зарегистрированного  луча  зависит  от  количества  и  типов  атомов,
составляющих  данное  семейство  плоскостей,  то  есть  от  "заселенности"
атомной  плоскости.  Поэтому  интенсивность  отраженного  луча  также
является характеристикой изучаемого объекта.

Широкое распространение из-за простоты и универсальности получил

метод порошка (метод Дебая

−

Шеррера), когда монохроматический пучок

рентгеновских лучей  направляют на поликристаллический образец. Так как
кристаллы, из которых состоит образец, очень малы (микрокристаллы), то в
исследуемом  объеме  образца  их  оказываются  десятки  миллионов.
Отраженные  разными  микрокристаллами  лучи  различной  интенсивности
фиксируются либо на специальной фотопленке, либо детектором. Рассчитав
полученную  таким  путем  рентгенограмму  (дифрактограмму),  получают
сведения  о  межплоскостных  расстояниях  в  кристалле.  Значение
межплоскостных  расстояний  для  каждого  вещества  строго  индивидуально,
поэтому  рентгенограмма  (дифрактограмма)  однозначно  характеризует
исследуемое вещество.

ОБОРУДОВАНИЕ

По способу регистрации рентгеновских лучей вся аппаратура делится

на два типа. К первому типу относятся приборы с фотографическим методом
регистрации  рентгеновских  лучей  на  специальной  рентгеновской  пленке  (в
данном  случае  дифракционная  картина  представляет  собой  ряд
концентрических  пар  черных  полос),  ко  второму  —  приборы  с